37年积蓄家中发霉

高分辨场发射透射电子显微镜

发(fa)布时间:2018-12-12

型号: JEM-F200
厂商:日本电子株式会社


设备参数
  电子枪:冷场场发射电子枪
  加速电压:20-200KV,
                    连续可调,步长50V
  束流:≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
  能量分辨率:≤ 0.3 eV
  图像分辨率:  
    TEM点分辨率:≤ 0.23 nm
    TEM线分辨率:≤ 0.10 nm
    STEM暗场分辨率:≤ 0.16 nm
  放大倍数:
    TEM模式 ×20 - 2,000,000
    STEM模式 ×200 - 150,000,000
  标准双倾杆倾斜角度:X/Y ≥ ± 35°/± 30°
  能量过滤分析系统:   
    能量分辨率: ≤ 0.5eV
    图像畸变: ≤0.75%
  能谱系统:  
    探测器有效面积:≥ 2×100 mm2
    能量分辨率:≤ 133 eV
    元素检测范围:B-U


主要用途:

    除进行常规的(de)材料内(nei)部(bu)显微形貌、结构(gou)、晶(jing)体结构(gou)、高分辨(bian)成像、晶(jing)体位向和物(wu)相分析(xi)外(wai),还(hai)可以(yi)利用3D 重(zhong)构(gou)软件(jian)对(dui)材料的(de)三维(wei)结构(gou)进行重(zhong)构(gou);以(yi)及利用电(dian)子能量损失谱(EELS)表征不同(tong)原(yuan)(yuan)子及不同(tong)原(yuan)(yuan)子价态的(de)分布。

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